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Sinopse
Esta edição atualizada possibilita uma compreensão essencial das características dos dispositivos semicondutores, como testes e circuitos práticos da forma como são encontrados no mundo real. Os conceitos são escritos de forma coloquial e de fácil leitura, estabelecendo o fundamento necessário para a compreensão do funcionamento e verificação de defeitos dos sistemas eletrônicos. Em todos os capítulos são encontrados exemplos de circuitos práticos e exercícios de verificação de defeitos utilizados na área de eletrônica. Como complemento, tem material para o aluno disponível na Internet: Respostas dos Problemas Ímpares e Arquivos MultiSim para a realização de exercícios.
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Ficha técnica
Especificações
| ISBN | 9788577260225 |
|---|---|
| Pré venda | Não |
| Peso | 1774g |
| Autor para link | MALVINO ALBERT PAUL,BATES DAVID J. |
| Livro disponível - pronta entrega | Não |
| Dimensões | 21 x 28 x 3.6 |
| Tipo item | Livro Nacional |
| Número de páginas | 688 |
| Número da edição | 7ª EDIÇÃO - 2008 |
| Código Interno | 507735 |
| Código de barras | 9788577260225 |
| Acabamento | BROCHURA |
| Autor | MALVINO, ALBERT PAUL | BATES, DAVID J. |
| Editora | MCGRAW HILL - ARTMED |
| Sob encomenda | Não |
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