De: R$ 2.733,36Por: R$ 1.913,35ou X de
Economia de R$ 820,01Para envios internacionais, simule o frete no carrinho de compras.
Editora
ISBN
Páginas
Peso
Idioma
Acabamento
Sinopse
This cutting-edge text, written by a team of leading experts, is the first detailed examination of the latest, most powerful scanning probe microscope, the atomic force microscope (AFM). Using the AFM, in combination with conventional tools and techniques, readers gain a profound understanding of the cell, subcellular organelles, and biomolecular structure and function.
Mostrar mais
Ficha técnica
Especificações
| ISBN | 9780471396284 |
|---|---|
| Pré venda | Não |
| Peso | 335g |
| Autor para link | JENA BHANU P.,HORBER HEINRICH J. K. |
| Livro disponível - pronta entrega | Não |
| Dimensões | 23 x 16 x 1 |
| Idioma | Inglês |
| Tipo item | Livro Importado |
| Número de páginas | 300 |
| Número da edição | 1ª EDIÇÃO - 2006 |
| Código Interno | 639929 |
| Código de barras | 9780471396284 |
| Acabamento | HARDCOVER |
| Autor | JENA, BHANU P. | HORBER, HEINRICH J. K. |
| Editora | JOHN WILEY |
| Sob encomenda | Sim |
Mostrar mais