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AcabamentoSinopse
Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.
* Memory cell structures and fabrication technologies.
* Application-specific memories and architectures.
* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.
* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.
* Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.
* Memory cell structures and fabrication technologies.
* Application-specific memories and architectures.
* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.
* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.
* Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.
Ficha Técnica
Especificações
| ISBN | 9780780310001 |
|---|---|
| Subtítulo | TECHNOLOGY, TESTING, AND RELIABILITY |
| Pré venda | Não |
| Peso | 1060g |
| Autor para link | SHARMA ASHOK |
| Livro disponível - pronta entrega | Não |
| Dimensões | 26.09 x 18.52 x 2.97 |
| Idioma | Inglês |
| Tipo item | Livro Importado |
| Número de páginas | 480 |
| Número da edição | 1ª EDIÇÃO - 2022 |
| Código Interno | 1141466 |
| Código de barras | 9780780310001 |
| Acabamento | HARDCOVER |
| Autor | SHARMA, ASHOK |
| Editora | WILEY-IEEE |
| Sob encomenda | Sim |